Langer干擾發(fā)射探頭套組（IC測(cè)試系統(tǒng)）P603-1/P750
品牌：Langer EMV-Technik
型號(hào)：P603-1/P750
基于IEC61967-4標(biāo)準(zhǔn)的傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量
Langer干擾發(fā)射探頭套組（IC測(cè)試系統(tǒng)）P603-1/P750介紹：
該探頭套組用于測(cè)量IC引腳的傳導(dǎo)發(fā)射（采用1歐姆/150歐姆直接耦合進(jìn)行測(cè)量）。它基于IEC61967-4標(biāo)準(zhǔn)，分別有一個(gè)用于測(cè)試電流和電壓的探頭。該探頭能夠接觸到測(cè)試IC的每個(gè)引腳。
該探頭套組能夠確保較高的測(cè)量重復(fù)精度和測(cè)量的可比較性。
使用朗格爾電磁兼容技術(shù)公司的ICE1集成電路IC測(cè)試環(huán)境，可以對(duì)待測(cè)集成電路進(jìn)行測(cè)試。芯片掃描ChipScan-ESA 軟件系統(tǒng)可以控制測(cè)量過程，并對(duì)所有引腳的測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行存儲(chǔ)以及快速系統(tǒng)地分析比較。
Langer干擾發(fā)射探頭套組（IC測(cè)試系統(tǒng)）P603-1/P750配置:
1x P603-1, 1Ω高頻電流表 SMA
1x P750, 150Ω高頻電壓表
1x CS-ESA, ESA芯片掃描軟件
1x SMA-SMB 1 m, SMA-SMB 測(cè)量電纜
1x NT FRI EU
1x P603 / P750 case, System case
1x P603-1 / P750 m, SMA
簡短的介紹：
P603-1 1Ω高頻電流表 SMA：探頭屬于1Ω探頭用于直接測(cè)量集成電路引腳上的高頻（RF）電流，主要用于接地引腳（Vss）和信號(hào)引腳的測(cè)量。1Ω 高頻電流計(jì)擁有針腳觸點(diǎn)，可以接觸到并對(duì)集成電路的每個(gè)引腳進(jìn)行測(cè)量。
P750 150Ω高頻電壓表：P750 高頻電壓表帶有150Ω的耦合電路，它根據(jù)IEC 61967-4測(cè)量集成電路引腳的高頻電壓。P750探頭具備高阻抗的電容耦合輸入，因此能夠測(cè)量受測(cè)物上不同引腳的射頻電壓。
CS-ESA：ESA芯片掃描軟件用于遙控頻譜分析儀，存儲(chǔ)并記錄測(cè)量曲線。這些曲線可以任意的相互或者與校正曲線、與頻率相關(guān)的曲線和曲線常數(shù)換算。
