| 詳細(xì)參數(shù) | |||
|---|---|---|---|
| 品牌 | LYDZC | 型號(hào) | MTO-122T |
| 適用軸承 | 高精密機(jī)械 | 是否進(jìn)口 | 否 |
| 是否標(biāo)準(zhǔn)件 | 標(biāo)準(zhǔn)件 | 材質(zhì) | 軸承鋼 |
| 樣品或現(xiàn)貨 | 樣品 | 加工定制 | 是 |
| 規(guī)格尺寸 | 8.898*4.803*1.339In | 重量 | kg |
| 產(chǎn)地 | 河南 | ||
MTO-122T型號(hào)轉(zhuǎn)盤軸承生產(chǎn)廠家
MTO-122T型號(hào)轉(zhuǎn)盤軸承具有以下特性：
1.2.1 絕熱量熱耐高溫
我們采用絕熱量熱計(jì)法是將封閉在一個(gè)絕熱環(huán)境中的試樣直接通電加熱，通過記錄所加電能、試樣溫度增加量及試樣的質(zhì)量而計(jì)算材料微分比熱容。
適用的溫度范圍：4.2~1900K。
精度：低溫區(qū)域內(nèi)誤差不超過0.5%~1.2%，超過100K誤差增加，高溫時(shí)為2%~5%。
絕熱量熱計(jì)分為梁總：1）等溫?zé)崞亮繜嵊?jì)，2）絕熱屏量熱計(jì)。
方法：（1）連續(xù)加熱法，在全部試驗(yàn)過程中對(duì)試樣一直進(jìn)行電加熱，并控制使熱屏與試樣的溫度始終保持一致；（2）周期加熱法，在沒有進(jìn)行電加熱時(shí)，使樣品與熱屏溫度處于平衡狀態(tài)，在限定時(shí)間內(nèi)通電加熱使試樣有很小的升溫。
注意事項(xiàng)：（1）準(zhǔn)確測量比熱容的關(guān)鍵是防止樣品銅周圍環(huán)境發(fā)生熱交換，應(yīng)采用系統(tǒng)抽空除氣和樣品外圍安裝輻射屏蔽的辦法，以防止試樣與環(huán)境的對(duì)流、傳導(dǎo)和輻射交換；（2）調(diào)節(jié)并控制熱屏的溫度跟蹤試樣的溫度，使兩者的溫度始終保持一致，保證試樣與周圍環(huán)境沒有熱交換；（3）在低溫下試驗(yàn)可根據(jù)不同需要采用不同的恒溫浴的介質(zhì)，如液氦、液氫、液氨、干冰或酒精等。
APTAC (左)、PhiTEC II（中）、VSP2（右）
1.2.2 下落法
下落法測量比熱容是將試樣掛在高溫爐中加熱到待測溫度并落到量熱計(jì)中以測量其比熱容。試樣落到量熱計(jì)中放出的熱量為試樣在高溫?zé)嵩礈囟扰c量熱計(jì)平均溫度之間熱焓的變化。
適用的溫度范圍：室溫至3700K。
樣下落后焓變計(jì)算示意圖
下落法測定比熱容的裝置由兩部分組成，即高溫爐和量熱計(jì)系統(tǒng)。下落法所用量熱計(jì)按其結(jié)構(gòu)不同可分為水卡計(jì)、銅卡和冰卡計(jì)。銅卡計(jì)有兩種：帶有等溫套的銅卡計(jì)和帶有絕熱屏的絕熱卡計(jì)。
方法（銅卡計(jì)）：（1）初始階段—試樣未落入銅卡計(jì)之前，試樣被高溫爐加熱到溫度T，銅卡計(jì)溫度為T1；（2）主階段——樣品落入后，銅卡計(jì)溫度迅速上升；（3）末階段—銅卡計(jì)內(nèi)的試樣放熱完畢，銅卡計(jì)與試樣共同達(dá)到溫度T2。
注意事項(xiàng)：（1）試樣由爐子下落到銅卡計(jì)的過程中，試樣的輻設(shè)熱損隨溫度的增加而急劇增加。因此，在高溫實(shí)驗(yàn)中通常用兩次試驗(yàn)來消除輻射熱損的影響；（2）量熱計(jì)每升高1K所需要的熱量必須精確標(biāo)定；（3）銅卡計(jì)的準(zhǔn)確度和不確定度采用質(zhì)量分?jǐn)?shù)大于99.9%的a-Al2O3作為標(biāo)準(zhǔn)樣品來標(biāo)定。
下落法銅卡計(jì)高溫比熱容測試裝置圖
1—下落機(jī)構(gòu)；2—試樣；3—爐子；
4—閥門；5—銅卡計(jì)；6—水浴。
1.2.3 通電加熱脈沖法
通電脈沖法測量比熱容是對(duì)導(dǎo)體材料進(jìn)行快速脈沖電加熱并在高溫狀態(tài)下測試其比熱容的方法。
本方法直接對(duì)試樣進(jìn)行快速脈沖電加熱試驗(yàn)，周期短，測試中由脈沖電加熱所獲得的熱量來不及散失，測試就已結(jié)束，電脈沖加熱的能力幾乎被試樣完全吸收，測試精度較高。
高速脈沖法測試系統(tǒng)采用毫秒級(jí)靈敏度和分辨率的光電高溫計(jì)和高速數(shù)據(jù)采集裝置，能迅速測試通入試樣的電能和試樣的溫度變化等各項(xiàng)參數(shù)值，測試溫度可高達(dá)試樣的熔點(diǎn)。
方法：將一根細(xì)小的試樣在真空中快速加熱，在試樣中心部位安裝兩支探針，測量試樣在兩探針之間的電壓降和電流，控制脈沖加熱時(shí)間，測量通過試樣的電流和探針之間的電壓降與時(shí)間的函數(shù)關(guān)系。
高速脈沖法測試系統(tǒng)框圖
