| 詳細(xì)參數(shù) | |||
|---|---|---|---|
| 品牌 | 美國DAKOTA | 型號(hào) | PT-402-5507 |
| 工作原理 | 超聲波測(cè)厚儀 | 用途 | 鋼板測(cè)厚儀 |
| 測(cè)量范圍 | 0.15-25.4mm | 顯示方式 | 數(shù)顯 |
| 電源電壓 | 電池 | 加工定制 | 否 |
| 外形尺寸 | 直徑1,4英寸,長(zhǎng)3,8英寸 | 重量 | 30g |
| 產(chǎn)地 | 美國 | ||
美國DAKOTA達(dá)高特測(cè)厚儀探頭 延遲塊探頭PT-402-5507
適用于 PX-7 / PX-7 DL / PZX-7 / PZX-7 DL / PVX 型高精密超聲波測(cè)厚儀
可選探頭：
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探頭名稱 |
探頭型號(hào) |
頻率 |
直徑 |
測(cè)量范圍 |
說明 |
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延遲塊探頭 |
PT-402-5507 |
15MHz |
6.35mm |
0.15～25.4mm |
標(biāo)配探頭 |
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延遲塊探頭 |
PT-402-6507 |
20MHz |
6.35mm |
0.15～19.05mm |
標(biāo)配探頭 |
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接觸式探頭 |
PT-4903-2875 |
5MHz |
3.18mm |
0.508～76.2mm |
不含探頭線 |
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接觸式探頭 |
PT-4903-4875 |
10MHz |
3.18mm |
0.254～76.2mm |
不含探頭線 |
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接觸式探頭 |
PT-4023-2855 |
5MHz |
6.35mm |
0.508～152mm |
不含探頭線 |
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接觸式探頭 |
PT-4023-4855 |
10MHz |
6.35mm |
0.254～152mm |
不含探頭線 |
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筆式探頭 |
PT-481-4507 |
10MHz |
4.76mm |
0.15～12.7mm |
用于PVX |
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筆式探頭 |
PT-681-4507 |
10MHz |
4.76mm |
0.15～12.7mm |
90度直角探頭，用于PVX |
可選配件：
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配件名稱 |
型號(hào) |
說明 |
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探頭線 |
N-104-0020 |
Lemo 00-Micdot,1.2米長(zhǎng) |
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延遲塊 |
F-000-7102 |
標(biāo)準(zhǔn)延遲塊，直徑6.35mm，長(zhǎng)9.5mm |
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延遲塊 |
F-000-7103 |
標(biāo)準(zhǔn)延遲塊，直徑6.35mm，長(zhǎng)12.7mm |
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延遲塊 |
X-132-0000 |
錐形延遲塊，前端直徑1/8英寸 |
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延遲塊 |
X-532-0000 |
錐形延遲塊，前端直徑3/16英寸 |
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延遲塊 |
X-633-0000 |
石墨延遲塊，前端直徑1/4英寸 |
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延遲塊 |
X-533-0000 |
石墨延遲塊，前端直徑3/16英寸 |
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延遲塊 |
X-152-0000 |
筆式探頭延遲塊，前端直徑1/16英寸 |
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延遲塊 |
X-752-0000 |
筆式探頭延遲塊，前端直徑1/8英寸 |
公司是一間專門生產(chǎn)工業(yè)上所使用的測(cè)厚儀及探傷設(shè)備. 儀器是采用超聲波技術(shù),不需將工件損壞就能作出探傷檢查或用作工件厚度或長(zhǎng)度測(cè)量。
產(chǎn)品系列
超聲波測(cè)厚儀ZX系列 ZX-3 / ZX-5 / ZX-5DL
超聲波測(cè)厚儀ZX系列 ZX-6 / ZX-6DL
多功能精密超聲測(cè)厚儀PVX
多功能超聲測(cè)厚儀系列
A/B掃描超聲波測(cè)厚儀MVX
多功能涂層超聲測(cè)厚儀CMX
多功能涂層A/B掃描超聲測(cè)厚儀CMX DL+
MINI-MAX超聲螺栓應(yīng)力測(cè)試儀
PR-8V精密超聲測(cè)厚儀
UMX-2 超輕量式水下測(cè)厚儀
深圳市泰立儀器儀表有限公司 - 代理許多國際知名的高科技儀器和設(shè)備，其中尤以無損檢測(cè)和金相理化設(shè)備為主。包括：超聲、渦流、漏磁、磁粉、射線、金相制樣、光譜等等。材料檢測(cè)為產(chǎn)品質(zhì)量提供了可靠的保證，同時(shí)增加了附加成本。但從另一角度考慮這一附加成本，質(zhì)量保證確實(shí)對(duì)節(jié)約潛在成本提供了有價(jià)值的代價(jià)。按優(yōu)化的生產(chǎn)流程您可以獲得幾個(gè)關(guān)鍵性的好處，提高生產(chǎn)效率，降低失效的危險(xiǎn)性，同時(shí)延長(zhǎng)設(shè)備的使用壽命。
無損檢測(cè)
涂層測(cè)厚儀 | 超聲波測(cè)厚儀 | UT探傷儀 | UT/PA 相控陣探傷儀 | 水浸C掃描系統(tǒng) | 便攜式渦流探傷儀 | 渦流探傷系統(tǒng) | x射線成像系統(tǒng) | 工業(yè)x射線機(jī) | x光探傷機(jī) | x光洗片機(jī) | 工業(yè)x射線實(shí)時(shí)成像檢測(cè)系統(tǒng) | 數(shù)碼成像系統(tǒng) | 自動(dòng)洗片機(jī) | 電導(dǎo)率測(cè)量?jī)x | 磁粉探傷機(jī) | 移動(dòng)式磁粉探傷機(jī) | 德國db | scanmaster | 德國tiede | 意大利寶石隆
理化檢測(cè)
光譜分析儀 | 直讀光譜儀 | 便攜式光譜儀 | 便攜式直讀光譜儀 | 德國光譜儀 | 磨拋機(jī) | 研磨機(jī) | 手動(dòng)切割機(jī) | 鑲樣機(jī) | 臺(tái)式光譜儀 | 自動(dòng)鑲樣機(jī) | 固定式光譜儀 | 切割機(jī) | 貝萊克 | LAMPLAN | 德國belec
