詳細參數(shù) | |||
---|---|---|---|
品牌 | 其他 | 型號 | SKNPTZG |
類型 | 直通,彎頭,三通,四通 | 材質(zhì) | 不銹鋼 |
連接形式 | 卡套式 | 是否進口 | 是 |
是否標準件 | 標準件 | 樣品或現(xiàn)貨 | 樣品 |
加工定制 | 是 | 公稱直徑 | 1.58mm-20mm |
外形尺寸 | 依圖紙 | 適用范圍 | 潔凈氣體,測試儀表,石油化工,半導(dǎo)體行業(yè),精密儀器 |
產(chǎn)地 | 其他 |
新聞:天津哈氏合金接頭批發(fā)直銷
PGA:插針網(wǎng)格陣列封裝,插裝型封裝之一,基材多采用多層陶瓷基板。SIP(SingleIn-line):單列直插式封裝,引腳從封裝一個側(cè)面引出,排列成一條直線。SIP(SystemInaPackage):系統(tǒng)級封裝,將多種功能芯片,包括處理器、存儲器等功能芯片集成在一個封裝內(nèi),從而實現(xiàn)一個基本完整的功能。對比MCM,3D立體化可以體現(xiàn)在芯片堆疊和基板腔體上。
、卡套式接頭的特點:
1)活動負載和雙卡套設(shè)計。
2)易于安裝。
3)安裝時不會把扭矩傳輸?shù)娇ㄌ坠苌稀?/span>
4) 間隙檢測規(guī)確保了安裝的充分緊固。
5)前卡套用于形成密封:與接頭本體之間的密封卡套管外徑的密封。
6)旋轉(zhuǎn)螺母時、后卡套將:沿軸向推進前卡套沿徑向施加一個有效的卡套管抓緊。
二、卡套式儀表管接頭的安裝:
1. 把螺母和卡套安裝到預(yù)裝的工具上。
2. 把卡套管插入到預(yù)裝工具內(nèi)。
3. 確??ㄌ坠芊€(wěn)固地靠在預(yù)裝工具本體的肩部并且螺母已用手指擰緊。
4. 在 6 點鐘的位置給螺母作標記。
5. 牢牢固定預(yù)裝工具本體、將螺母緊固一又四分之一圈以停在 9 點鐘的
位置。對于 1/16 、 1/8 和 3/16 in. ; 2 、 3 和4 mm 的卡套管接頭、僅將螺母緊固四分之三圈以停在 3 點鐘的位置 ( 圖 1)。
6. 松開螺母。
7. 從預(yù)裝工具上拆除帶有預(yù)裝卡套的卡套管。如果卡套管粘在預(yù)裝工具上、輕輕地前后搖晃卡套管以便將其拆除。切勿旋轉(zhuǎn)卡套管 (圖 2)。
8. 將帶有預(yù)裝卡套的卡套管插入接頭內(nèi)直到前卡套頂在接頭本體上。
9. 牢牢固定接頭本體、使用扳手把螺母轉(zhuǎn)到先前緊固位置;這時、您會感覺
到阻力明顯增大。
10. 用扳手輕輕緊固 (圖 3)
三、卡套管接頭種類:
端直通接頭
直通接頭
卡套彎通接頭
卡套三通接頭
卡套四通接頭
其終端直通螺紋常用大致分為:英制G螺紋zg螺紋、公制M螺紋、美制螺紋NPT等,NPT/G/ZG均為管螺紋,主要用于管道的連接,是內(nèi)外螺紋緊密配合,實現(xiàn)密封。
新聞:天津哈氏合金接頭批發(fā)直銷
先測試出可控硅的峰值電壓,將電線正負極連接至K兩極,接地線接至室內(nèi)主接地上,逐漸升壓,測試其漏電流數(shù)值。進行漏電測試后,逐漸升壓,觀測漏電流,當(dāng)數(shù)值超過其額定峰值電壓后,可控硅被擊穿,但采用此方法可能會破壞其PN結(jié),并且只能測試其是否導(dǎo)通,而不能測試其導(dǎo)通是否良好,故不再采用此法進行測試。搖表測試法用搖表對可控硅進行測量,參照之前使用的漏電檢測法。為防止搖表法測試過程中擊穿或損壞可控硅,改變搖表操作方法,即要對搖表電壓和轉(zhuǎn)速進行控制,兩筆端鏈接K極對其進行測試。
四、卡套管接頭常用的管子的規(guī)格:
英制:1/4、3/8、1/2英寸。1英寸=25.4mm
公制:6、8、10、12mm
五、螺紋卡套管接頭的密封使用生膠帶的注意事項:
1)上生膠帶前要對接頭螺紋進行清潔,
2)上生膠帶的方向為順時針,
3)生膠帶不能超過接頭螺紋端部
4)生膠帶剪短后,要緊貼螺紋。
六、儀表管接頭材質(zhì):
常用的為SS304 、SS316、 SS316L、也有特殊材料,具體以客戶需求訂購原材料。
七、用途:產(chǎn)品廣泛用于實驗室、電子半導(dǎo)體、冶金工業(yè)、船舶工業(yè)、電力設(shè)備、石油化工、海洋平臺、工程機械、機床設(shè)備等領(lǐng)域。
新聞:天津哈氏合金接頭批發(fā)直銷
APD的工作模式分為線性模式和蓋革模式兩種。當(dāng)APD的偏置電壓低于其雪崩電壓時,對入射光電子起到線性放大作用,這種工作狀態(tài)稱為線性模式。在線性模式下,反向電壓越高,增益就越大。APD對輸入的光電子進行等增益放大后形成連續(xù)電流,獲得帶有時間信息的激光連續(xù)回波信號。當(dāng)偏置電壓高于其雪崩電壓時,APD增益迅速增加,此時單個光子吸收即可使探測器輸出電流達到飽和,這種工作狀態(tài)稱為蓋革模式。工作在蓋革模式下的APD又被稱作SPAD。