| 詳細參數(shù) | |||
|---|---|---|---|
| 品牌 | 梅特勒-托利多 | 型號 | T5維修 |
| 類型 | 電位滴定儀 | 測量范圍 | 堿度常數(shù) |
| 分辨率 | 1/14000 | 電源電壓 | 24V |
| 環(huán)境溫度 | 0~35℃ | 裝箱數(shù) | 1 |
| 加工定制 | 是 | 滴定方法 | 其他 |
| 重量 | 4.3公斤 | 產(chǎn)地 | 江蘇 |
| 外形尺寸 | 340mm*400mm*400mm | ||
該蓋子上有27個孔，用于放置連接器，該連接器通過兩個帶帽螺釘連接到蓋子，可提供電源和數(shù)據(jù)傳輸，表4列出了通過有限元模型獲得的盒子的前兩個固有頻率，表4.帶有前蓋的盒子的前兩個固有頻率模式頻率[Hz]1140522099由基座和殼體組成的組件的模式形狀前蓋顯示。
粘度計維修 右一儀器粘度儀維修24小時
凌科維修各種儀器，30+位維修工程師，經(jīng)驗豐富，維修后可測試。主要維修品牌有：美國brookfield博勒飛、博勒飛、德國艾卡/IKA、艾默生、英國BS、HAAKE、Hydramotin、TRUSCO、koehler、德杜儀器、美國CSC、恒平、日本馬康、MALCOM、安東帕、德國IKA/艾卡 、ChemTron、哈克、Fungilab、紡吉萊博、中旺、愛拓、斯派超等儀器都可以維修
然后將這些應(yīng)力與引線(或f焊料)材料在累積的疲勞循環(huán)中的耐力強度S進行比較，如果S≡K考，那么導(dǎo)線(或f焊料)將不會因疲勞而失效，在此，K是與導(dǎo)線/焊料接頭或?qū)Ь€/組件主體界面處的幾何不連續(xù)性相關(guān)的應(yīng)力集中系數(shù)。 有趣的是知道S隨S的變化，m22已經(jīng)建立了一些經(jīng)驗關(guān)系，這些關(guān)系將非零均條件下給定壽命的失效與零均循環(huán)應(yīng)力下相同壽命的失效聯(lián)系起來，這些方法使用各種曲線將交變應(yīng)力軸上的疲勞限與屈服強度，限強度或均應(yīng)力軸上的真實斷裂應(yīng)力相關(guān)聯(lián)。
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1. 我的電腦無法連接到粘度計的 USB
這是一個常見的障礙，但需要進行簡單的調(diào)整！該問題的診斷是您的計算機無法正常檢測到USB驅(qū)動，因此您的儀器無法連接到計算機和軟件。要更新 USB 驅(qū)動程序，請下載以下鏈接中的更新。
路線：
1) 到達站點后，向下滾動到VCP 驅(qū)動程序部分。
2) 在“處理器架構(gòu)”表中，單擊 Window 2.12.28.3 注釋部分中的“安裝可執(zhí)行文件”。按照更新說明進行操作。下載以下文件，解壓并以管理員權(quán)限運行。這應(yīng)該有助于在您重新啟動軟件時解決問題。
2. 清潔 VROC 芯片時，我沒有看到預(yù)期的結(jié)果
考慮一下您的樣品和清潔工作。如果您的芯片讀取的粘度略高于清潔溶液應(yīng)讀取的粘度，這意味著它可能不是適合您的樣品的清潔溶液，或者芯片內(nèi)部有樣品積聚。您應(yīng)該先檢查正在運行的解決方案。如果您的樣品有 PBS、緩沖液或異丙醇等常用溶劑，建議檢查并嘗試在清潔后運行這些溶劑。
出于存儲目的，建議終達成可以長期存儲芯片的清潔協(xié)議。例如，儲存在糖溶液中并不理想，因為糖溶液會粘附在流動通道上。
一般提示，水不是一種好的清潔劑，原因如下：
高表面張力 – 即使是水溶液，它也不是的清潔劑
氣泡被困在流道中的可能性——由于其高表面張力而導(dǎo)致的另一個結(jié)果
故障時間的變化幅度為數(shù)量級，相對濕度的變化相對較小，工業(yè)規(guī)格的主要差異往往在于暴露的持續(xù)時間，表面絕緣電阻測試約延長4至7天，電化學遷移測試約延長500小時(21天)，對于沒有保形涂層的產(chǎn)品，建議在40。 大多數(shù)可靠性工程師都了解這樣一個現(xiàn)實:在電測量過程中，關(guān)注的關(guān)鍵區(qū)域的靈敏度只是測試電路的體電阻的一小部分，由于涉及的幾何尺寸較小，因此在測試微孔時，這種情況會大大放大，任何微通孔可靠性工作的主要職責是能夠創(chuàng)建專門設(shè)計的測試車輛。 您將收到警報，示例:電子產(chǎn)品制造商可能會遇到以下三種警報之[不推薦用于新設(shè)計"-NRND產(chǎn)品已經(jīng)投入生產(chǎn)，并且不會過時，但是，由于以下兩個原因之一，使用這些組件是錯誤的，或者有更好或更經(jīng)濟的替代方案可用。
3. 我的 rsquared 值超出了 0.996 - 1.000 范圍
您的樣品可能不均勻，注射器中的樣品中可能存在氣泡，或者由于水等高表面張力而在注射器內(nèi)形成氣泡。請參閱如何從樣品中去除氣泡或通過回載正確加載樣品 來解決此錯誤
4. 我的樣品無法通過我的芯片/我收到 MEMS 傳感器錯誤
您的樣品有顆粒嗎？仔細檢查顆粒尺寸并確保其適用于您的芯片。
粘度計的預(yù)防性維護分為兩部分。部分是將傳感器從生產(chǎn)線上拆下，將其安裝在支架上并進行清潔。在此期間，還應(yīng)拆下并清潔傳感活塞。這是一個簡單的七步過程，只需幾分鐘即可完成。
第二個預(yù)防性維護過程是使用經(jīng)過認證的校準液檢查粘度計系統(tǒng)的準確性。這驗證了粘度測量的準確性和可靠性。這是一個簡單的三步過程，也可以快速執(zhí)行。
第二次掉落的時間(，7小時)被視為故障點，因為電阻值低于105歐姆，比初始值106歐姆低了十倍，1010109(Ohm)108107電阻106105104103102010203040時間(小時)對照樣品的電阻監(jiān)控。 )至少要有5.0mm，，基準標記的制造要求在裸板PCB制造過程中，基準標記的尺寸變化必須不超過25μm，如果尺寸變化太大，則計算機圖像獲取的數(shù)據(jù)偏差將超過標準值的變化類別，從而影響板載機和報警器，并降低制造效率。 評估是通過權(quán)衡對NASA任務(wù)的影響以及在某些情況下共享測試數(shù)據(jù)來執(zhí)行的，PCB簡介PCB按其形式可分為幾類:剛性，柔性(flex)，剛性-flex和高頻，NASA使用的絕大部分PCB是剛性類型，當儀器維修必須占據(jù)非面位置時。 目前指的是一種廣泛接受的標準PCB行業(yè)軟件，能夠描述儀器維修圖像的情況，例如導(dǎo)體層，阻焊層，圖例層，印刷儀器維修是在專門的EDA(電子設(shè)計自動化)或CAD(計算機設(shè)計)系統(tǒng)中設(shè)計的，它們可以進一步基于開始進行儀器維修制造的過程來生成儀器維修制造數(shù)據(jù)。
應(yīng)當記住，輻射熱處理的應(yīng)用無法識別所有潛在的不可靠的EC，并且仍可能發(fā)生不可預(yù)測的運行中故障。通過引入各種類型的冗余來解決該問題：硬件，模式和信息。信息編碼（例如漢明碼）可以用作信息冗余的示例。日積月累，各種可靠性改進技術(shù)甚至是商業(yè)級產(chǎn)品的綜合應(yīng)用，使得它可以減少隨機故障率的1?10級水的要求-8-1?10-9^h-1來講EC。材料的功能兼容性我們將EC可靠性程度作為其工作模式和結(jié)構(gòu)材料類型的函數(shù)，再考慮一個例子。在較早的工作[13]中，研究了以脈沖模式工作的微波晶體管。已經(jīng)證明，在大多數(shù)情況下，微波晶體管的故障是由于半導(dǎo)體完整性的喪失而引起的。利用鋁作為導(dǎo)電材料的晶體管典型。在主動運行期間。
譜系分析譜系分析檢查與故障樹和FMA＆A中標識的組件和子組件有關(guān)的所有文書工作。由于正常的質(zhì)量保證和其他保留記錄的要求，大多數(shù)公司都有相當廣泛的書面記錄。譜系分析包括研究本文，以確定它是否表明故障樹中標識的組件和子組件是否滿足要求。該文件可以包括測試數(shù)據(jù)，檢驗數(shù)據(jù)，原材料數(shù)據(jù)表和其他認證。應(yīng)該檢查上述數(shù)據(jù)是否有證據(jù)表明不符合項或其他不一致之處。測試表或檢驗表顯示零件或子組件不符合要求但被錯誤接受的情況并不少見。同樣，必須警惕無關(guān)的發(fā)現(xiàn)。我們建議僅檢查由故障樹分析確定的零件或組件的數(shù)據(jù)（因此，也要檢查FMA＆A）。由于故障樹確定了觀察到的故障的所有潛在原因，因此無需探索其他數(shù)據(jù)。如果數(shù)據(jù)表中指出了不符合項。
本文定義了一個降級因子，以測量粉塵污染板與控制板之間的阻抗差異，阻抗(Z)包括實分量(Z′)和虛分量(Z″)，如Z≤Z′≤jZ″所示，阻抗(|Z|)用于表征灰塵的影響，定義為Z(Z)2嗎(Z[)2，粉塵樣品的降解因子(DF)的計算公式為||ZT。 并且?guī)缀鯖]有變化，如29所示，當RH87值較低時，幾個數(shù)據(jù)點重疊，在30中可以觀察到RH的臨界過渡區(qū)域，當RH增加到臨界范圍時，在RH范圍內(nèi)每增加10%RH，兩個電之間的測試板阻抗便開始以數(shù)量級衰減。 以實現(xiàn)感興趣的破壞機理，灰塵的水分吸收能力可用于根據(jù)阻抗故障的損失對不同的灰塵進行分類，具有高吸濕能力的粉塵具有高的降解因子，塵埃水溶液的離子種類/濃度或電導(dǎo)率可用于對與電化學遷移相關(guān)的故障進行塵埃分類。 具體取決于所使用的氯化物污染水，在85℃和85%RH的受控氯化物濃度污染的銅金屬鍍層(625萬，12.5密耳和25密耳間距)上施加10V偏壓168小時，發(fā)現(xiàn)氯化物低于20米克/英寸2時，樹枝狀生長占主導(dǎo)。
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