| 詳細(xì)參數(shù) | |||
|---|---|---|---|
| 品牌 | AB(Allen-Bradley) | 型號(hào) | 1790-T0A8X |
| 結(jié)構(gòu)形式 | 模塊式 | 安裝方式 | 其他 |
| LD指令處理器 | 硬PLC | I/O點(diǎn)數(shù) | 8 |
| 功能 | 控制系統(tǒng) | 工作電壓 | 24-250V |
| 輸出頻率 | 50-260HZz | 處理速度 | 25.66s |
| 程序容量 | 38KB | 數(shù)據(jù)容量 | 42KB |
| 產(chǎn)品認(rèn)證 | 合格 | 環(huán)境溫度 | 0.65% |
| 環(huán)境濕度 | 5-60℃ | 加工定制 | 否 |
| 重量 | 2-10kg | 產(chǎn)地 | 美國(guó) |
| 外形尺寸 | 178mm-235mm | ||
1790-T0A8X 控制器模塊
.功能與參數(shù)測(cè)試
1.<測(cè)試儀>對(duì)器件的檢測(cè),僅能反應(yīng)出截止區(qū),放大區(qū)和飽和區(qū).但不
能測(cè)出工作頻率的高低和速度的快慢等具體數(shù)值等.
2.同理對(duì)TTL數(shù)字芯片而言,也只能知道有高低電平的輸出變化.而無(wú)
法查出它的上升與下降沿的速度.
四.晶體振蕩器
1.通常只能用示波器(晶振需加電)或頻率計(jì)測(cè)試,萬(wàn)用表等無(wú)法測(cè)量,
否則只能采用代換法了.
2.晶振常見故障有:a.內(nèi)部漏電,b.內(nèi)部開路c.變質(zhì)頻偏d.外圍相連電
容漏電.這里漏電現(xiàn)象,用<測(cè)試儀>的VI曲線應(yīng)能測(cè)出.
3.整板測(cè)試時(shí)可采用兩種判斷方法:a.測(cè)試時(shí)晶振附近既周圍的有關(guān)
芯片不通過(guò).b.除晶振外沒找到其它故障點(diǎn).
4.晶振常見有2種:a.兩腳.b.四腳,其中第2腳是加電源的,注意不可隨
意短路.
五.故障現(xiàn)象的分布
1.電路板故障部位的不完全統(tǒng)計(jì):1)芯片損壞30%, 2)分立元件損壞30%,
3)連線(PCB板敷銅線)斷裂30%, 4)程序破壞或丟失10%(有上升趨勢(shì)).
2.由上可知,當(dāng)待修電路板出現(xiàn)聯(lián)線和程序有問題時(shí),又沒有好板子,既
不熟悉它的連線,找不到原程序.此板修好的可能性就不大了.
1790-T0A8X 控制器模塊
| 1786-TNCL10 |
| 1786-TNCLP4 |
| 1786-TNCLXT4 |
| 1786-TPR |
| 1786-TPRT2T |
| 1786-TPS |
| 1786-TPST2T |
| 1786-TPYR |
| 1786-TPYS |
| 1786-XT |
| 1787-PLUG10R |
| 1787-RSCABL |
| 1787-USADPTR |
| 1788-CN2DN |
| 1788-CN2FFR |
| 1788-CN2PAR |
| 1788-EN2DNR |
| 1788-EN2DNROM |
| 1788-EN2FFR |
| 1788-EN2PAR |
| 1788-FBJB4R |
| 1788-FBJB6 |
| 1789-L10M |
| 1789-L30 |
| 1789-L30M |
| 1789-L60M |
| 1790-0B16X |
| 1790-0V16X |
| 1790-0W8X |
| 1790-15CMCBL |
| 1790-16BV0X |
| 1790-7CMCBL |
| 1790-8BV8BX |
| 1790-8BV8VX |
| 1790-T0A8X |
| 1790-T0B16X |
| 1790-T0V16X |
| 1790-T0W8X |
| 1790-T16BV0X |
| 1790-T8A0X |
| 1790-T8BV8BX |
| 1790-T8BV8VX |
| 1790D-0B16 |
| 1790D-0V16 |
| 1790D-0W6 |
| 1790D-16BV0 |
| 1790D-8BV8B |
| 1790D-8BV8V |
| 1790D-N0C2 |
| 1790D-N4C0 |
| 1790D-T0A6 |
| 1790D-T0B16 |
| 1790D-T0B32 |
