| 詳細(xì)參數(shù) | |||
|---|---|---|---|
| 品牌 | AB(Allen-Bradley) | 型號 | 1732D-16CFGM12MN |
| 結(jié)構(gòu)形式 | 模塊式 | 安裝方式 | 其他 |
| LD指令處理器 | 硬PLC | I/O點數(shù) | 5 |
| 功能 | 控制系統(tǒng) | 工作電壓 | 35-240V |
| 輸出頻率 | 56-245Hz | 處理速度 | 32.8s |
| 程序容量 | 45KB | 數(shù)據(jù)容量 | 40KB |
| 產(chǎn)品認(rèn)證 | 合格 | 環(huán)境溫度 | 0.80% |
| 環(huán)境濕度 | 5-60℃ | 加工定制 | 否 |
| 重量 | 2-10kg | 產(chǎn)地 | 美國 |
| 外形尺寸 | 234mm-352mm | ||
1732D-16CFGM12MN卡件
維修技巧之
維修經(jīng)驗總結(jié)
一.帶程序的芯片
1.EPROM芯片一般不宜損壞.因這種芯片需要紫外光才能擦除掉程序,
故在測試中不會損壞程序.但有資料介紹:因制作芯片的材料所致,隨著
時間的推移(年頭長了),即便不用也有可能損壞(主要指程序).所以要
盡可能給以備份.
2.EEPROM,SPROM等以及帶電池的RAM芯片,均極易破壞程序.這類芯片
是否在使用<測試儀>進(jìn)行VI曲線掃描后,是否就破壞了程序,還未有定
論.盡管如此,同仁們在遇到這種情況時,還是小心為妙.筆者曾經(jīng)做過
多次試驗,可能大的原因是:檢修工具(如測試儀,電烙鐵等)的外殼漏電
所致.
3.對于電路板上帶有電池的芯片不要輕易將其從板上拆下來.
二.復(fù)位電路
1.待修電路板上有大規(guī)模集成電路時,應(yīng)注意復(fù)位問題.
2.在測試前裝回設(shè)備上,反復(fù)開,關(guān)機器試一試.以及多按幾次復(fù)
位鍵.
1732D-16CFGM12MN卡件
| 1719-OB2L |
| 1719-PSDC |
| 1719-SP1 |
| 1719-TB6 |
| 1719-TB6F |
| 1719-TB6S |
| 1719-TB8 |
| 1719-TB8F |
| 1719-TB8S |
| 1719-TB8SX2 |
| 1719-TB8X2 |
| 1719-TB8X2F |
| 1719-TB8X2SA |
| 1732D-16CFGM12M12 |
| 1732D-16CFGM12MN |
| 1732D-8CFGM12 |
| 1732D-8CFGM8 |
| 1732D-8I8O1212D |
| 1732D-IB161212D |
| 1732D-IBDPM12MND |
| 1732D-OB16M12M12 |
| 1732D-OB16M12MINI |
| 1732DS-IB8 |
| 1732DS-IB8XOBV4 |
| 1732E-12X4M12P5QCDR |
| 1732E-12X4M12QCDR |
| 1732E-16CFGM12M12LDR |
| 1732E-16CFGM12P5DR |
| 1732E-16CFGM12P5QCR |
| 1732E-16CFGM12P5QCWR |
| 1732E-16CFGM12QCR |
| 1732E-16CFGM12QCWR |
| 1732E-16CFGM12R |
| 1732E-8CFGM8R |
| 1732E-8IOLM12R |
| 1732E-8X8M12DR |
| 1732E-IB16M12DR |
| 1732E-IB16M12R |
| 1732E-IB16M12SOEDR |
| 1732E-IB8M8SOER |
| 1732E-IF4M12R |
| 1732E-IR4IM12R |
| 1732E-IT4IM12R |
| 1732E-OB16M12DR |
| 1732E-OB16M12R |
| 1732E-OB8M8SR |
| 1732E-OF4M12R |
| 1732ES-IB12XOB4 |
| 1732ES-IB12XOB4-F |
| 1732ES-IB12XOBV2 |
| 1732ES-IB12XOBV2-F |
| 1732ES-IB16 |
| 1732ES-IB16-F |
| 1732ES-IB8XOB8 |
| 1732ES-IB8XOBV4 |
| 1732ES-IB8XOBV4-F |
| 1732IL-10X6M12 |
| 1732IL-16CFGM12M12L |
