| 詳細(xì)參數(shù) | |||
|---|---|---|---|
| 品牌 | AB(Allen-Bradley) | 型號 | 1769-IQ16 |
| 結(jié)構(gòu)形式 | 模塊式 | 安裝方式 | 其他 |
| LD指令處理器 | 硬PLC | I/O點(diǎn)數(shù) | 8 |
| 功能 | 控制系統(tǒng) | 工作電壓 | 24-250V |
| 輸出頻率 | 50-260HZz | 處理速度 | 25.66s |
| 程序容量 | 38KB | 數(shù)據(jù)容量 | 42KB |
| 產(chǎn)品認(rèn)證 | 合格 | 環(huán)境溫度 | 0.65% |
| 環(huán)境濕度 | 5-60℃ | 加工定制 | 否 |
| 重量 | 2-10kg | 產(chǎn)地 | 美國 |
| 外形尺寸 | 178mm-235mm | ||
1769-IQ16 電源
.功能與參數(shù)測試
1.<測試儀>對器件的檢測,僅能反應(yīng)出截止區(qū),放大區(qū)和飽和區(qū).但不
能測出工作頻率的高低和速度的快慢等具體數(shù)值等.
2.同理對TTL數(shù)字芯片而言,也只能知道有高低電平的輸出變化.而無
法查出它的上升與下降沿的速度.
四.晶體振蕩器
1.通常只能用示波器(晶振需加電)或頻率計(jì)測試,萬用表等無法測量,
否則只能采用代換法了.
2.晶振常見故障有:a.內(nèi)部漏電,b.內(nèi)部開路c.變質(zhì)頻偏d.外圍相連電
容漏電.這里漏電現(xiàn)象,用<測試儀>的VI曲線應(yīng)能測出.
3.整板測試時可采用兩種判斷方法:a.測試時晶振附近既周圍的有關(guān)
芯片不通過.b.除晶振外沒找到其它故障點(diǎn).
4.晶振常見有2種:a.兩腳.b.四腳,其中第2腳是加電源的,注意不可隨
意短路.
五.故障現(xiàn)象的分布
1.電路板故障部位的不完全統(tǒng)計(jì):1)芯片損壞30%, 2)分立元件損壞30%,
3)連線(PCB板敷銅線)斷裂30%, 4)程序破壞或丟失10%(有上升趨勢).
2.由上可知,當(dāng)待修電路板出現(xiàn)聯(lián)線和程序有問題時,又沒有好板子,既
不熟悉它的連線,找不到原程序.此板修好的可能性就不大了.
1769-IQ16 電源
| 1756-L82EXT |
| 1756-L83E |
| 1756-L83E-NSE |
| 1756-L83EK |
| 1756-L83EP |
| 1756-L83ES |
| 1756-L83ESK |
| 1756-L83EXT |
| 1756-L84E |
| 1756-L84E-NSE |
| 1756-L84EK |
| 1756-L84ES |
| 1756-L84ESK |
| 1756-L84EXT |
| 1756-L85E-NSE |
| 1756-L85EK |
| 1756-L85EP |
| 1756-L85EXT |
| 1756-L8SP |
| 1756-L8SPK |
| 1756-LSC8XIB8I |
| 1756-LSC8XIB8IK |
| 1756-M02AE |
| 1756-M02AEK |
| 1756-M02AS |
| 1756-M02ASK |
| 1756-M03SE |
| 1756-M03SEK |
| 1756-M08SE |
| 1756-M08SEG |
| 1756-M08SEGK |
| 1756-M08SEK |
| 1756-M16SE |
| 1756-M16SEK |
| 1756-N2 |
| 1756-N2XT |
| 1756-OA16 |
| 1756-OA16I |
| 1756-OA16IK |
| 1756-OA16K |
| 1756-OA8 |
| 1756-OA8D |
| 1756-OA8E |
| 1756-OA8K |
| 1756-OB16D |
| 1756-OB16DK |
| 1756-OB16E |
| 1756-OB16EK |
| 1756-OB16I |
| 1756-OB16IEF |
| 1756-OB16IEFK |
| 1756-OB16IEFS |
| 1756-OB16IEFSK |
| 1756-OB16IK |
| 1756-OB16IS |
| 1756-OB32 |
| 1756-OB32K |
| 1756-OB8 |
| 1756-OB8EI |
| 1756-OB8EIK |
| 1756-OB8K |
| 1756-OBV8S |
| 1756-OC8 |
| 1756-OC8K |
| 1756-OF4 |
