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傳感器1746-OW8

.功能與參數(shù)測試 
1.<測試儀>對器件的檢測,僅能反應(yīng)出截止區(qū),放大區(qū)和飽和區(qū).但不 
能測出工作頻率的高低和速度的快慢等具體數(shù)值等. 
2.同理對TTL數(shù)字芯片而言,也只能知道有高低電平的輸出變化.而無 
法查出它的上升與下降沿的速度. 
四.晶體振蕩器 
1.通常只能用示波器(晶振需加電)或頻率計測試,萬用表等無法測量, 
否則只能采用代換法了. 
2.晶振常見故障有:a.內(nèi)部漏電,b.內(nèi)部開路c.變質(zhì)頻偏d.外圍相連電 
容漏電.這里漏電現(xiàn)象,用<測試儀>的VI曲線應(yīng)能測出. 
3.整板測試時可采用兩種判斷方法:a.測試時晶振附近既周圍的有關(guān) 
芯片不通過.b.除晶振外沒找到其它故障點. 
4.晶振常見有2種:a.兩腳.b.四腳,其中第2腳是加電源的,注意不可隨 
意短路. 
五.故障現(xiàn)象的分布 
1.電路板故障部位的不完全統(tǒng)計:1)芯片損壞30%, 2)分立元件損壞30%, 
3)連線(PCB板敷銅線)斷裂30%, 4)程序破壞或丟失10%(有上升趨勢). 
2.由上可知,當(dāng)待修電路板出現(xiàn)聯(lián)線和程序有問題時,又沒有好板子,既 
不熟悉它的連線,找不到原程序.此板修好的可能性就不大了.  

傳感器1746-OW8

1746-F8

1746-F9

1746-HCA

1746-HSCE

1746-HSCE2

1746-HT

1746-IA16

1746-IB16

1746-IB32

1746-IM16

1746-ITB16

1746-IV16

1746-IV32

1746-N2

1746-NI16I

1746-NI8

1746-NO8I

1746-NO8V

1746-NR8

1746-NT8

1746-OA16

1746-OA8

1746-OB16

1746-OB16E

1746-OB32

1746-OB32E

1746-OBP8

1746-OV16

1746-OV32

1746-OW16

1746-OW8

1746-OX8

1746-P2

1746-P3

1746-P4

1746-R14

1746-RT25B

1746-RT25C

1746-RT25G

1746-RT25R

1747-AENTR

1747-BA

1747-BAJMPR

1747-C10

1747-C13

1747-C20

1747-CP3

1747-DU501

1747-FC

1747-KY1

1747-L532

1747-L533

1747-L541

1747-L542

1747-L543

1747-L551

1747-L552

1747-L553

1747-M13

1747-M15

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1747-OS401

1747-SDN

1747-SN

1747-UIC

1751-SL4SP

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1752-L24BBBE

1753-CFBBASICM

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1753-L28BBBP

1753-L32BBBM-8A

1753-L32BBBP-8A

1753-OB16

1753-OPCM

1753-OW8

1753-PCS-PARM

1753-PCS-USBM

1756-A10

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