詳細參數(shù) | |||
---|---|---|---|
品牌 | AB(Allen-Bradley) | 型號 | 1762-L40BXBR |
結(jié)構(gòu)形式 | 模塊式 | 安裝方式 | 其他 |
LD指令處理器 | 硬PLC | I/O點數(shù) | 5 |
功能 | 控制系統(tǒng) | 工作電壓 | 35-240V |
輸出頻率 | 56-245Hz | 處理速度 | 32.8s |
程序容量 | 45KB | 數(shù)據(jù)容量 | 36KB |
產(chǎn)品認證 | 合格 | 環(huán)境溫度 | 0.80% |
環(huán)境濕度 | 5-60℃ | 加工定制 | 否 |
重量 | 2.2kg | 產(chǎn)地 | 美國 |
外形尺寸 | 215mm-345mm |
1762-L40BXBR伺服電機
工業(yè)電路板維修技巧
不能過分依賴在線測試儀
1.功能測試不能代替參數(shù)測試
2. 功能測試僅能測試到器件的截止區(qū),放大區(qū)和飽和區(qū),但無法了解此時的工作頻率的高低和速度的快慢。
3. 對數(shù)字芯片而言,僅知道有高低電平的輸出變化,但無法查出它的上升和下降沿的變化速度。
4. 對于模擬芯片,它處理的是模擬的變化量。其受電路的元器件的分布,解決信號方案的不同的影響,是錯綜復(fù)雜的。就目前的在線測試技術(shù),要解決模擬芯片在線測試是不可能的。所以,這項功能測試的結(jié)果,僅能供參考。
5. 大多數(shù)的在線測試議,在對于電路板上的各類芯片進行功能測試后,均會給出“測試通過”或“測試不通過”。那么它為什么不給出被測器件是否有問題呢?這就是這類測試儀的缺撼。因為在線測試時,所受影響(干擾)的因素太多。要求在測試前采取不少的措施(如斷開晶振,去掉CPU和帶程序的芯片,加隔離中斷信號等等),這樣做是否均有效,值得研究。至少,目前的測試結(jié)果有時不盡人意。
6. 了解在線測試儀的讀者,均知道有這么一句行話?!霸诰€測試時不通過的芯片不一定是損壞的;測試通過的芯片一定是沒有損壞的?!彼慕忉尀?,如器件受在線影響或抗干擾時,結(jié)果可能不通過,對此不難理解。那么,是否損壞的芯片在進行測試時,均會得出“不通過”呢?回答確實不能肯定。筆者與同行均遇到過,明明芯片已損壞了(確切地說換上這個芯片板子就不工作了),但測試結(jié)果是通過的。權(quán)威解釋為這是測試儀自身工作原理(后驅(qū)動技術(shù))所致。故此我們不能過分依賴在線測試儀(盡管各廠家宣傳的很玄)的作用,否則將使維修電路板的工作誤入歧途。
1762-L40BXBR伺服電機
1762-L40AWAR |
1762-L40BWA |
1762-L40BWAR |
1762-L40BXB |
1762-L40BXBR |
1762-MM1 |
1762-MM1RTC |
1762-OA8 |
1762-OB16 |
1762-OB32T |
1762-OB8 |
1762-OF4 |
1762-OV32T |
1762-OW16 |
1762-OW8 |
1762-OX6I |
1762-RPLDIN2 |
1762-RPLDR2 |
1762-RPLRTB40 |
1762-RTC |
1763-BA |
1763-L16AWA |
1763-L16BBB |
1763-L16BWA |
1763-L16DWD |
1763-MM1 |
1763-NC01 |
1766-L32AWA |
1766-L32AWAA |
1766-L32BWA |
1766-L32BWAA |
1766-L32BXB |
1766-L32BXBA |
1766-MM1 |
1768-CNB |
1768-CNBR |
1768-EWEB |
1768-L43S |
1769-AENTR |
1769-AENTRK |
1769-ARM |
1769-ASCII |
1769-BA |
1769-BOOLEAN |
1769-CJC |
1769-CLL1 |
1769-CLL3 |
1769-CRL1 |
1769-CRL3 |
1769-CRR1 |
1769-CRR3 |
1769-ECL |
1769-ECLK |
1769-ECR |
1769-ECRK |
1769-HSC |
1769-IA16 |
1769-IA16K |
1769-IA8I |
1769-IA8IK |
1769-IF16C |
1769-IF16CK |
1769-IF16V |
1769-IF16VK |
1769-IF4 |
1769-IF4FXOF2F |
1769-IF4I |
1769-IF4IK |