| 詳細參數(shù) | |||
|---|---|---|---|
| 品牌 | AB(Allen-Bradley) | 型號 | 1734-OB8S |
| 結(jié)構(gòu)形式 | 模塊式 | 安裝方式 | 其他 |
| LD指令處理器 | 硬PLC | I/O點數(shù) | 8 |
| 功能 | 控制系統(tǒng) | 工作電壓 | 24-240V |
| 輸出頻率 | 56-245Hz | 處理速度 | 33.6s |
| 程序容量 | 45KB | 數(shù)據(jù)容量 | 36KB |
| 產(chǎn)品認證 | 合格 | 環(huán)境溫度 | 0.80% |
| 環(huán)境濕度 | 5-60℃ | 加工定制 | 否 |
| 重量 | 2-10kg | 產(chǎn)地 | 美國 |
| 外形尺寸 | 315mm-455mm | ||
1734-OB8S cpu
1.<測試儀>對器件的檢測,僅能反應出截止區(qū),放大區(qū)和飽和區(qū).但不
能測出工作頻率的高低和速度的快慢等具體數(shù)值等.
2.同理對TTL數(shù)字芯片而言,也只能知道有高低電平的輸出變化.而無
法查出它的上升與下降沿的速度.
四.晶體振蕩器
1.通常只能用示波器(晶振需加電)或頻率計測試,萬用表等無法測量,
否則只能采用代換法了.
2.晶振常見故障有:a.內(nèi)部漏電,b.內(nèi)部開路c.變質(zhì)頻偏d.外圍相連電
容漏電.這里漏電現(xiàn)象,用<測試儀>的VI曲線應能測出.
3.整板測試時可采用兩種判斷方法:a.測試時晶振附近既周圍的有關(guān)
芯片不通過.b.除晶振外沒找到其它故障點.
4.晶振常見有2種:a.兩腳.b.四腳,其中第2腳是加電源的,注意不可隨
意短路.
五.故障現(xiàn)象的分布
1.電路板故障部位的不完全統(tǒng)計:1)芯片損壞30%, 2)分立元件損壞30%,
3)連線(PCB板敷銅線)斷裂30%, 4)程序破壞或丟失10%(有上升趨勢).
2.由上可知,當待修電路板出現(xiàn)聯(lián)線和程序有問題時,又沒有好板子,既
不熟悉它的連線,找不到原程序.此板修好的可能性就不大了.
1734-OB8S cpu
| 1734-232ASC |
| 1734-485ASC |
| 1734-ACNR |
| 1734-ADN |
| 1734-AENT |
| 1734-AENTR |
| 1734-APB |
| 1734-ARM |
| 1734-CTM |
| 1734-EP24DC |
| 1734-FPD |
| 1734-IA2 |
| 1734-IA4 |
| 1734-IB2 |
| 1734-IB4 |
| 1734-IB4D |
| 1734-IB8 |
| 1734-IB8S |
| 1734-IE2C |
| 1734-IE2V |
| 1734-IE4C |
| 1734-IE4S |
| 1734-IE8C |
| 1734-IJ |
| 1734-IK |
| 1734-IM2 |
| 1734-IM4 |
| 1734-IR2 |
| 1734-IR2E |
| 1734-IT2I |
| 1734-IV2 |
| 1734-IV4 |
| 1734-IV8 |
| 1734-OA2 |
| 1734-OA4 |
| 1734-OB2 |
| 1734-OB2E |
| 1734-OB2EP |
| 1734-OB4 |
| 1734-OB4E |
| 1734-OB8 |
| 1734-OB8E |
| 1734-OB8S |
| 1734-OE2C |
| 1734-OE2V |
| 1734-OE4C |
| 1734-OV2E |
| 1734-OV4E |
| 1734-OV8E |
| 1734-OW2 |
| 1734-OW4 |
| 1734-OX2 |
| 1734-PDN |
| 1734-RTB |
| 1734-RTB3 |
| 1734-RTB3S |
| 1734-RTBCJC |
| 1734-RTBS |
| 1734-SSI |
| 1734-TB |
| 1734-TB3 |
| 1734-TB3S |
| 1734-TBCJC |
| 1734-TBS |
| 1734-TOP |
| 1734-TOP3 |
| 1734-TOP3S |
| 1734-TOPS |
| 1734-VHSC24 |
| 1734-VHSC5 |
| 1734-VTM |
