最近關(guān)注了這個(gè)問題,發(fā)現(xiàn)這方面研究還挺多的。但就目前我還是不確定診斷IGBT老化有何意義。至少在國內(nèi)好像沒有人關(guān)注這個(gè)問題,現(xiàn)場IGBT壞就壞了,停機(jī)就可以了。對(duì)于在線式UPS應(yīng)該更有意義,但UPS有冗余備份,可以解決這個(gè)問題。下面就總結(jié)一下我在這方面的理解。
1)通過檢測門極電流和門極電壓來診斷IGBT老化,這好像是目前最實(shí)用的一種方法,但是增加了驅(qū)動(dòng)電路的復(fù)雜度。
2)通過辨識(shí)電路元件參數(shù)檢測IGBT老化。我認(rèn)為這種方法沒有實(shí)際價(jià)值,主要是元器件參數(shù)本身就是隨環(huán)境變化的,并且變化不小,哪能辨識(shí)準(zhǔn),并且實(shí)現(xiàn)較為復(fù)雜。
3)通過檢測PWM的高頻信號(hào)。當(dāng)門極電阻較小時(shí),PWM上升沿有一個(gè)振蕩衰減過程,這個(gè)振蕩過程隨著IGBT老化減弱。我認(rèn)為這種方法仍然沒有實(shí)際價(jià)值,因?yàn)檫@種方法需要準(zhǔn)確的分析電路的寄生參數(shù),而寄生參數(shù)和太多因素有相關(guān)性。
4)通過測量IGBT導(dǎo)通壓降或?qū)娮铏z測老化。這種方法是最直觀的,因?yàn)镮GBT老化主要體現(xiàn)在IGBT導(dǎo)通電阻增加。但我同樣認(rèn)為這種方法不可行,因?yàn)檫@需要測量精度非常高。
5)通過提取電路的的控制特征參數(shù)檢測老化。這個(gè)特征參數(shù)可以是電路的模擬量,或者控制量,或者這些量的關(guān)系式,在通過概率統(tǒng)計(jì)的方法對(duì)該特征參數(shù)進(jìn)行分析。個(gè)人認(rèn)為這種方法有一定可行性。
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