這會(huì)使酸在該角度的角落積聚，反過(guò)來(lái)，這導(dǎo)致酸在拐角處的停留時(shí)間比預(yù)期的更長(zhǎng)，這進(jìn)而導(dǎo)致酸損害了連接，這使得電路有缺陷，從而妨礙了電子設(shè)備的整體有效性和可靠性，可以通過(guò)采用防止在PCB的制造過(guò)程中使用銳角的設(shè)計(jì)工藝來(lái)避免。
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顯微硬度測(cè)試的常見問(wèn)題
1、準(zhǔn)確性 – 儀器以線性方式讀取公認(rèn)硬度標(biāo)準(zhǔn)（經(jīng)過(guò)認(rèn)證的試塊）的能力，以及將該準(zhǔn)確性轉(zhuǎn)移到測(cè)試樣本上的能力。
2、重復(fù)性- 結(jié)果是否可以使用公認(rèn)的硬度標(biāo)準(zhǔn)重復(fù)。
3、相關(guān)性——兩臺(tái)經(jīng)過(guò)正確校準(zhǔn)的機(jī)器或兩個(gè)操作員能否得出相同或相似的結(jié)果（不要與使用同一臺(tái)機(jī)器和同一操作員的重復(fù)性相混淆。
過(guò)熱–(紅色)含義:控制器在散熱器上包含一個(gè)熱敏開關(guān)，用于感測(cè)功率晶體管的溫度，如果超過(guò)溫度，該LED將亮起，可能的原因:邏輯電源電路故障或交流輸入接線錯(cuò)誤，如果散熱片跳閘，則可能發(fā)生以下一種或多種情況:機(jī)柜溫度過(guò)高機(jī)柜冷卻系統(tǒng)。 您還可以將蓋板，機(jī)箱，散熱器或其他插入式板和其他機(jī)械元件導(dǎo)入PADS，并檢查它們是否正確配對(duì)，PADPCB設(shè)計(jì)|手推車本文介紹的功能只是在PCB設(shè)計(jì)方面使用PADS軟件的一些基本功能，只要在設(shè)計(jì)工作中使用它。
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1、機(jī)器。
維氏顯微硬度測(cè)試儀通過(guò)使用自重產(chǎn)生力來(lái)進(jìn)行測(cè)量。這些輕負(fù)載裝置 (10-2,000 gf) 將自重直接堆疊在壓頭頂部。雖然這消除了放大誤差以及其他誤差，但這可能會(huì)導(dǎo)致重復(fù)性問(wèn)題。在大多數(shù)情況下，顯微硬度計(jì)使用兩種速度施加載荷——“快”速度使壓頭靠近測(cè)試件，“慢”速度接觸工件并施加載荷。壓頭的“行程”通常用測(cè)量裝置設(shè)定?？偠灾患?lè)器給人留下印象大約需要 30 秒。此時(shí)，在進(jìn)行深度測(cè)量或只是試圖在特定點(diǎn)上準(zhǔn)確放置壓痕時(shí)，壓頭與物鏡的對(duì)齊至關(guān)重要。如果這部分弄錯(cuò)了，即使硬度值不受影響，但距樣品邊緣的距離也可能是錯(cuò)誤的，終導(dǎo)致測(cè)量錯(cuò)誤。
加載的起始水(1步)為20-2000Hz2grms(2.02×10-33g2/Hz)隨機(jī)振動(dòng)，每個(gè)步驟的測(cè)試持續(xù)時(shí)間選擇為1小時(shí)，以提供高循環(huán)疲勞發(fā)生率，在測(cè)試PCB的SST中，在每個(gè)測(cè)試步驟中，輸入都以疲勞曲線斜率1遞增。 我還要向MichaelAzarian博士表示誠(chéng)摯的謝意，感謝他與我就該研究主題進(jìn)行了寶貴的討論，并為我的研究提供了不斷的鼓勵(lì)，Azarian博士一直在那里聆聽并提供良好的建議，我對(duì)他的討論深表謝意，這些討論有助于我整理研究工作的技術(shù)細(xì)節(jié)。
2、運(yùn)營(yíng)商。
顯微硬度測(cè)試很大程度上受操作者的能力和技能的影響。正確的聚焦是獲得準(zhǔn)確結(jié)果的關(guān)鍵因素。模糊圖像和結(jié)果很容易被誤讀或誤解。在許多情況下，操作員有時(shí)會(huì)急于進(jìn)行測(cè)試并取出零件。必須小心確保正確的結(jié)果。在許多情況下，機(jī)器的自動(dòng)對(duì)焦可以幫助消除一些由乏味、費(fèi)力和重復(fù)性任務(wù)帶來(lái)的感知錯(cuò)誤。
手動(dòng)記錄和轉(zhuǎn)換結(jié)果可能是操作員出錯(cuò)的另一個(gè)原因。疲勞的眼睛很容易將 99.3 視為 9.93。 自動(dòng)給出轉(zhuǎn)換和結(jié)果的數(shù)字顯微硬度測(cè)試儀可以幫助消除這個(gè)問(wèn)題。此外，相機(jī)幾乎可以連接到任何顯微硬度測(cè)試儀上，以幫助找到印模末端。
進(jìn)行了初步測(cè)試，以確定測(cè)試試樣的適當(dāng)粉塵沉積量和跡線間距，選擇參數(shù)以使被測(cè)樣品的阻抗范圍在測(cè)量設(shè)備的能力之內(nèi)，一旦通過(guò)實(shí)驗(yàn)確定了參數(shù)，就可以將其用于終測(cè)試工具和更大樣本量的實(shí)驗(yàn)，初步測(cè)試的試樣應(yīng)設(shè)計(jì)為可調(diào)間距。 4.何時(shí)需要解決過(guò)時(shí)如果您的項(xiàng)目充斥著陳舊的組件，那么大多數(shù)董事會(huì)都不愿意找到替代方案，服務(wù)的ECM會(huì)通過(guò)第三方淘汰軟件尋找替代方案，如果切換其他組件還不夠，承包商可以[重新設(shè)計(jì)"或重新設(shè)計(jì)儀器維修。
3、環(huán)境問(wèn)題。
由于顯微硬度測(cè)試中使用輕負(fù)載，振動(dòng)可能會(huì)影響負(fù)載精度。壓頭或試樣的振動(dòng)會(huì)導(dǎo)致壓頭更深地進(jìn)入零件，從而產(chǎn)生更柔軟的結(jié)果。顯微硬度計(jì)應(yīng)始終放置在專用、水平、堅(jiān)固、獨(dú)立的桌子上。確保您的桌子沒(méi)有靠墻或相鄰的桌子。
顯微硬度計(jì)硬度計(jì)機(jī)器具有高倍光學(xué)鏡片。如果在測(cè)試儀附近進(jìn)行切割、研磨或拋光，鏡頭上可能會(huì)沾上污垢，從而導(dǎo)致結(jié)果不準(zhǔn)確。
工廠的清潔度也很重要，因?yàn)榛覊m，頭發(fā)或昆蟲可能會(huì)干擾PCB，因此，需要采取預(yù)防措施以保持工廠盡可能的清潔，可能導(dǎo)致PCB故障的另一個(gè)因素是制造和組裝階段的人為錯(cuò)誤，如果管理不當(dāng)，可能由人為錯(cuò)誤引起多種因素。 這樣，概念證明可能包括某些工作能力，但不一定全部，重點(diǎn)僅僅是為了證明該設(shè)計(jì)將在以下一種或多種方面起作用:機(jī)械學(xué)運(yùn)動(dòng)建筑感測(cè)器如果做得正確，概念驗(yàn)證將迅速清除所有無(wú)效的內(nèi)容，這個(gè)階段對(duì)于在將來(lái)的申請(qǐng)中驗(yàn)證知識(shí)產(chǎn)權(quán)主張也很重要。 使用壽命就結(jié)束了，其中包括絕緣擊穿，電流泄漏增加，電阻損失和電容損失，識(shí)別由于老化而導(dǎo)致的故障電路或組件目視檢查通常是確定電子板上故障組件的種方法，[特定組件發(fā)生故障時(shí)，明顯的指示就是仔細(xì)查看它，"驅(qū)動(dòng)器維修專家亞當(dāng)說(shuō)。
大多數(shù)連接器的鎖定功能可防止電纜錯(cuò)誤插入或互換，但并非總是如此。顯然，相同的螺釘長(zhǎng)度可能不同，或者螺紋類型略有不同。小零件可能適合多個(gè)位置或一個(gè)方向。等等藥瓶，薄膜罐和塑料冰格托盤可在拆卸后方便地分類和存儲(chǔ)螺釘及其他小零件。如果同時(shí)進(jìn)行多臺(tái)設(shè)備的維修，則尤其如此。選擇一個(gè)工作區(qū)域，該工作區(qū)域應(yīng)敞開，光線充足，并且可以放置掉落的零件-而不要放在深毛絨地毯上。佳位置也將相對(duì)無(wú)塵，并且可以讓您暫停進(jìn)行故障排除以進(jìn)食或睡覺(jué)或思考，而不必將所有物品都堆放在紙板箱中進(jìn)行存儲(chǔ)。了解ESD的風(fēng)險(xiǎn)-靜電放電。固態(tài)電子設(shè)備中的某些組件（例如IC）容易受到ESD的影響。無(wú)需費(fèi)力，而是采取合理的預(yù)防措施，例如養(yǎng)成先接觸“安全”接地點(diǎn)的慣。
我們的客戶將選擇接受或拒絕(未經(jīng)客戶同意我們不會(huì)開始對(duì)設(shè)備進(jìn)行維修)，評(píng)估過(guò)程是我們?yōu)榭蛻籼峁┑姆?wù)，維修過(guò)程均需要3-5天的周轉(zhuǎn)時(shí)間，具體取決于所需零件的可用性，當(dāng)客戶選擇使用我們的更換計(jì)劃時(shí)，他們選擇將需要維修的零件更換為已經(jīng)重新制造的零件。 并且不會(huì)干擾相鄰PCB上的相鄰組件，如果要安裝重的組件，則在PCB板之間需要額外的材料以確保面板的機(jī)械強(qiáng)度，重要的是要確保任何金屬與PCB板邊緣之間的間隙對(duì)于布線而言至少為500萬(wàn)，對(duì)于v刻痕至少為2000萬(wàn)。 以產(chǎn)生提取的粉塵樣品溶液，然后使用IC對(duì)其中的陰離子和陽(yáng)離子含量進(jìn)行分析，使用以下公式計(jì)算結(jié)果:結(jié)果表明存在天然豐富的無(wú)機(jī)礦物質(zhì)，在三種天然粉塵樣品中，Na，Mg，S和Cl的重量百分比差異很大，由于EDS對(duì)低原子序元素的敏感性有限。 設(shè)計(jì)了一個(gè)用于測(cè)試的集塵室，如8所示，腔室是透明的有機(jī)玻璃盒子，長(zhǎng)約325毫米，高675毫米，深200毫米，風(fēng)扇37使空氣沿著由室內(nèi)的擋板確定的路徑循環(huán)，灰塵被引入風(fēng)扇正上方的系統(tǒng)中，并向下引導(dǎo)，腔室的倒角拐角順時(shí)針引導(dǎo)氣流。
這通常涉及問(wèn)題區(qū)域中的每個(gè)組件。有必要列出（寫下）可能導(dǎo)致問(wèn)題的每個(gè)故障，無(wú)論其發(fā)生的可能性有多遠(yuǎn)。使用您的初步觀察結(jié)果可以幫助您做到這一點(diǎn)。在下一步中，您將消除那些不太可能發(fā)生的。步驟4–確定可能的原因一旦列出了可能的原因，就必須對(duì)每個(gè)項(xiàng)目的優(yōu)先級(jí)進(jìn)行排序，以將其作為故障原因。以下是優(yōu)先考慮可能原因的一些經(jīng)驗(yàn)法則。盡管兩個(gè)組件似乎可能同時(shí)發(fā)生故障，但可能性很小。先尋找一個(gè)有問(wèn)題的組件作為罪魁禍。以下列表顯示了應(yīng)根據(jù)組件有缺陷的可能性檢查組件的順序：先，尋找燒壞或容易磨損的組件，例如機(jī)械開關(guān)，絲，繼電器觸點(diǎn)和燈泡。（請(qǐng)記住，在絲的情況下，它們會(huì)由于某種原因而燒壞。在更換絲之前。
數(shù)字式硬度計(jì)維修 英國(guó)Foundrax硬度計(jì)維修規(guī)模大并使結(jié)論無(wú)效。在設(shè)計(jì)QALT時(shí)，必須適當(dāng)考慮力學(xué)，電子，物理和化學(xué)。請(qǐng)注意，“MTBF”測(cè)試是并行使用許多單元以縮短測(cè)試時(shí)間的一種流行的壽命測(cè)試方法。它不適用于磨損測(cè)試！它可以應(yīng)用于正常壽命失效的測(cè)試，但是絕不能將此類測(cè)試的結(jié)果推斷為比測(cè)試本身更長(zhǎng)的時(shí)間。結(jié)論正如在零件證明一和本文的兩個(gè)部分，傳統(tǒng)的浴盆曲線是對(duì)可能影響產(chǎn)品的關(guān)鍵失效模式的合理定性說(shuō)明。諸如Weibull分布之類的定量模型可用于評(píng)估實(shí)際設(shè)計(jì)，并確定觀察到的故障是否隨著時(shí)間的推移而減少，恒定或增加，從而可以采取適當(dāng)?shù)拇胧?。指?shù)分布和相關(guān)的均故障間隔時(shí)間（MTBF）度量標(biāo)準(zhǔn)適用于分析“正常壽命”期間產(chǎn)品的數(shù)據(jù)，該數(shù)據(jù)的特征在于故障率恒定。 kjbaeedfwerfws
