天津瑞利光電科技有限公司優(yōu)勢經(jīng)銷美國Thorlabs雙折射顯微鏡成像系統(tǒng)LCC7201
產(chǎn)品型號：LCC7201
關(guān)鍵字：Thorlabs雙折射顯微鏡成像系統(tǒng)LCC7201
關(guān)鍵字描述：
產(chǎn)品介紹：
平坦樣品中的延遲度和方位角（快速軸方向）的測量
在<15 s內(nèi)測量直徑20mm的視場
包括三個用于直徑0.5英寸，直徑1英寸和2英寸x 2英寸光學(xué)元件的樣品架
LCC7201雙折射成像系統(tǒng)用于學(xué)術(shù)研究、醫(yī)療診斷、工業(yè)制造和產(chǎn)品質(zhì)量保證，可以測量晶體和液晶設(shè)備等平整的平面樣品的相位延遲和方位角，非常適合檢測由應(yīng)力引起的雙折射特性。由于該系統(tǒng)基于液晶器件，其內(nèi)部沒有相對機(jī)械運動，從而在運行過程中非常穩(wěn)定，毫無振動干擾。LCC7201工作的波長為633 nm，提供直徑20 mm的視場。該系統(tǒng)所測相位延遲范圍為半波長（max.316 nm），方位角范圍為±90°。此外，還可以定制波長范圍從405 nm到810 nm的工作波長。
參數(shù)：
光源波長：633 nm
延遲測量范圍
標(biāo)準(zhǔn)延遲范圍：0至316 nm
低延遲范圍：0至100 nm
方位角測量范圍：±90°
延遲測量
精度標(biāo)準(zhǔn)延遲范圍：<±10 nm
低延遲范圍：<±1 nm
方位角測量精度
標(biāo)準(zhǔn)延遲范圍：<±3°
低延遲范圍：<±1°
測量速率：<15 s
視場：直徑20mm
空間分辨率：9.77μm
接口：USB 2.0和千兆以太網(wǎng)
相機(jī)分辨率：2048 x 2048像素
尺寸：500.0 mm（D）x 360.0 mm（W）x 672.0 mm（H）
重量：26 kg（57.3 lbs）
工作溫度：0至40°C
儲存溫度：-15至65°C
隨附的配件：筆記本電腦，樣品架，雙折射分辨率目標(biāo)（Item R2L2S1B）
隨著我國工業(yè)自動化水平、高科技產(chǎn)品的高速發(fā)展，我們意識到引進(jìn)新技術(shù)和高科技產(chǎn)品的重要性。所以，瑞利光電自成立之初便憑借著對國內(nèi)和國際市場的深入調(diào)研和了解，在經(jīng)營理念、管理制度、貿(mào)易接洽、人才任用等方面都擁有較大的競爭力，并確立了明確的戰(zhàn)略目標(biāo)。
