5A26435H03plc
功能與參數(shù)測試
1.<測試儀>對器件的檢測,僅能反應出截止區(qū),放大區(qū)和飽和區(qū).但不
能測出工作頻率的高低和速度的快慢等具體數(shù)值等.
2.同理對TTL數(shù)字芯片而言,也只能知道有高低電平的輸出變化.而無
法查出它的上升與下降沿的速度.
四.晶體振蕩器
1.通常只能用示波器(晶振需加電)或頻率計測試,萬用表等無法測量,
否則只能采用代換法了.
2.晶振常見故障有:a.內部漏電,b.內部開路c.變質頻偏d.外圍相連電
容漏電.這里漏電現(xiàn)象,用<測試儀>的VI曲線應能測出.
3.整板測試時可采用兩種判斷方法:a.測試時晶振附近既周圍的有關
芯片不通過.b.除晶振外沒找到其它故障點.
4.晶振常見有2種:a.兩腳.b.四腳,其中第2腳是加電源的,注意不可隨
意短路.
五.故障現(xiàn)象的分布
1.電路板故障部位的不完全統(tǒng)計:1)芯片損壞30%, 2)分立元件損壞30%,
3)連線(PCB板敷銅線)斷裂30%, 4)程序破壞或丟失10%(有上升趨勢).
2.由上可知,當待修電路板出現(xiàn)聯(lián)線和程序有問題時,又沒有好板子,既
不熟悉它的連線,找不到原程序.此板修好的可能性就不大了.
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| 5A22411H01 |
| 5A22412H01 |
| 5A22727G02 |
| 5A22727G03 |
| 5A22971G01 |
| 5A22982G01 |
| 5A22982G02 |
| 5A22982G03 |
| 5A23111G02 |
| 5A23186G01 |
| 5A23398G01 |
| 5A23743G01 |
| 5A23831G01 |
| 5A23831G04 |
| 5A26129G01 |
| 5A26137G01 |
| 5A26137G02 |
| 5A26137G03 |
| 5A26137G04 |
| 5A26141G05 |
| 5A26144G03 |
| 5A26147G10 |
| 5A26148G14 |
| 5A26149G14 |
| 5A26355G01 |
| 5A26355G02 |
| 5A26355G03 |
| 5A26355G04 |
| 5A26355G05 |
| 5A26355G06 |
| 5A26355G07 |
| 5A26355G08 |
| 5A26355H13 |
| 5A26371H12 |
| 5A26371H19 |
| 5A26371H29 |
| 5A26373H01 |
| 5A26391G04 |
| 5A26391G05 |
| 5A26391H03 |
| 5A26420G01 |
| 5A26420G01 |
| 5A26420G02 |
| 5A26420G07 |
| 5A26420G12 |
| 5A26430H04 |
| 5A26430H11 |
| 5A26430H15 |
| 5A26430H20 |
| 5A26431G05 |
| 5A26432H02 |
| 5A26434H01 |
| 5A26435H03 |
| 5A26438G01 |
| 5A26438H01 |
| 5A26438H04 |
| 5A26453G01 |
| 5A26457G01 |
| 5A26458G01 |
| 5A26458G02 |
| 5A26458G03 |
| 5A26477G01 |
| 5A26477H02 |
| 5A26477H03 |
| 5A26477H04 |
| 5A26477H05 |
| 5A26479G01 |
| 5A26479G02 |
| 5A26479G03 |
| 5A26479G06 |
| 5A26479G07 |
| 5A26481G01 |
| 5A26499G01 |
| 5X00001H15 |
| 5X00034G01 |
| 5X00044G01 |
| 5X00058G01 |
| 5X00059G01 |
| 5X00062G01 |
| 5X00063G01 |
| 5X00070G01 |
| 5X00070G02 |
| 5X00070G03 |
| 5X00082H12 |
| 5X00085G01 |
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