DSQC256A 卡件
維修技巧之
維修經驗總結
一.帶程序的芯片
1.EPROM芯片一般不宜損壞.因這種芯片需要紫外光才能擦除掉程序,
故在測試中不會損壞程序.但有資料介紹:因制作芯片的材料所致,隨著
時間的推移(年頭長了),即便不用也有可能損壞(主要指程序).所以要
盡可能給以備份.
2.EEPROM,SPROM等以及帶電池的RAM芯片,均極易破壞程序.這類芯片
是否在使用<測試儀>進行VI曲線掃描后,是否就破壞了程序,還未有定
論.盡管如此,同仁們在遇到這種情況時,還是小心為妙.筆者曾經做過
多次試驗,可能大的原因是:檢修工具(如測試儀,電烙鐵等)的外殼漏電
所致.
3.對于電路板上帶有電池的芯片不要輕易將其從板上拆下來.
二.復位電路
1.待修電路板上有大規(guī)模集成電路時,應注意復位問題.
2.在測試前裝回設備上,反復開,關機器試一試.以及多按幾次復
位鍵.
DSQC256A 卡件
| DAI03 |
| DAI04 |
| DAO01 |
| DDI03 |
| DSDI130 |
| DSQC101 |
| DSQC103 |
| DSQC107 |
| DSQC123B |
| DSQC125 |
| DSQC129 |
| DSQC202 |
| DSQC223 |
| DSQC224 |
| DSQC227 |
| DSQC228 |
| DSQC230 |
| DSQC230H |
| DSQC236A |
| DSQC236B |
| DSQC236C |
| DSQC236D |
| DSQC236G |
| DSQC236K |
| DSQC236T |
| DSQC239 |
| DSQC243 |
| DSQC245 |
| DSQC249B |
| DSQC252 |
| DSQC253 |
| DSQC256A |
| DSQC257 |
| DSQC258 |
| DSQC259 |
| DSQC266A |
| DSQC266B |
| DSQC266C |
| DSQC266G |
| DSQC266H |
| DSQC266T |
| DSQC314A |
| DSQC314B |
| DSQC315 |
| DSQC316 |
| DSQC317 |
| DSQC321 |
| DSQC324 |
| DSQC325 |
| DSQC326 |
| DSQC327 |
| DSQC328 |
| DSQC328A |
| DSQC330 |
| DSQC334 |
| DSQC336 |
| DSQC345A |
| DSQC345B |
| DSQC345C |
| DSQC345D |
| DSQC345E |
| DSQC346 |
| DSQC346B |
| DSQC346C |
| DSQC346G |
| DSQC346U |
Allen-Bradley（羅克韋爾），Schneider（施耐德），Siemens（西門子），GE（通用電氣），ABB，
Omron（歐姆龍），IFM（易福門），Emerson（艾默生），Fanuc（發(fā)那科），Foxboro（?？怂共_），
Westinghouse（西屋），Honeywell（霍尼韋爾），Panasonic（松下），Mitsubsihi（三菱），
Beckhoff（倍福），Yaskawa（安川），Pepperl+fuchs（倍加福），B&R（貝加萊），Danfoss（丹佛斯）
，Fuji（富士），Festo（費斯托），Phoenix（菲尼克斯），Koyo（光洋），Yokogawa（橫河），
Heidenhain（海德漢），Hydac（賀德克），Hirschmann（赫斯曼），Keyence（基恩士），Moeller（穆勒），
Kuka（庫卡），Kollmorgen（科爾摩根），Lenze（倫茨），Rosemount（羅斯蒙特），LG，LS（產電），
Rexroth（力士樂），Leuze（勞易測），Norgren（諾冠），Pilz（皮爾茲），Pro-face（普洛菲斯），
SMC，Sanyo（三洋），Delta（臺達），Turck（圖爾克），Sick（施克），Sharp（夏普），Eaton（伊頓）
,bently (本特利）