歡迎咨詢1734-4IOL 電纜 一覽表2022已更新(今日/資訊)
.功能與參數(shù)測試
1.<測試儀>對器件的檢測,僅能反應(yīng)出截止區(qū),放大區(qū)和飽和區(qū).但不
能測出工作頻率的高低和速度的快慢等具體數(shù)值等.
2.同理對TTL數(shù)字芯片而言,也只能知道有高低電平的輸出變化.而無
法查出它的上升與下降沿的速度.
四.晶體振蕩器
1.通常只能用示波器(晶振需加電)或頻率計測試,萬用表等無法測量,
否則只能采用代換法了.
2.晶振常見故障有:a.內(nèi)部漏電,b.內(nèi)部開路c.變質(zhì)頻偏d.外圍相連電
容漏電.這里漏電現(xiàn)象,用<測試儀>的VI曲線應(yīng)能測出.
3.整板測試時可采用兩種判斷方法:a.測試時晶振附近既周圍的有關(guān)
芯片不通過.b.除晶振外沒找到其它故障點.
4.晶振常見有2種:a.兩腳.b.四腳,其中第2腳是加電源的,注意不可隨
意短路.
五.故障現(xiàn)象的分布
1.電路板故障部位的不完全統(tǒng)計:1)芯片損壞30%, 2)分立元件損壞30%,
3)連線(PCB板敷銅線)斷裂30%, 4)程序破壞或丟失10%(有上升趨勢).
2.由上可知,當待修電路板出現(xiàn)聯(lián)線和程序有問題時,又沒有好板子,既
不熟悉它的連線,找不到原程序.此板修好的可能性就不大了.
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| 1734-485ASC |
| 1734-485ASCK |
| 1734-4IOL |
| 1734-4IOLK |
| 1734-8CFG |
| 1734-8CFGDLX |
| 1734-ACNR |
| 1734-ACNRK |
| 1734-ADN |
| 1734-ADNK |
| 1734-ADNX |
| 1734-AENT |
| 1734-AENTK |
| 1734-AENTR |
| 1734-AENTR-CC |
| 1734-AENTRK |
| 1734-APB |
| 1734-ARM |
| 1734-ARMK |
| 1734-CTM |
| 1734-CTMK |
| 1734-EP24DC |
| 1734-EP24DCK |
| 1734-EPAC |
| 1734-EPACK |
| 1734-EXT1 |
| 1734-EXT3 |
| 1734-FPD |
| 1734-FPDK |
| 1734-IA2 |
| 1734-IA4 |
| 1734-IA4K |
| 1734-IB2 |
| 1734-IB4 |
| 1734-IB4D |
| 1734-IB4K |
| 1734-IB8 |
| 1734-IB8K |
| 1734-IB8S |
| 1734-IB8S-CC |
| 1734-IB8SK |
| 1734-IE2C |
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| 1734-IE2VK |
| 1734-IE4C |
| 1734-IE4CK |
| 1734-IE4S |
| 1734-IE4SK |
| 1734-IE8C |
| 1734-IE8CK |
| 1734-IJ |
| 1734-IK |
| 1734-IKK |
| 1734-IM2 |
| 1734-IM4 |
| 1734-IR2 |
| 1734-IR2E |
| 1734-IR2K |
| 1734-IT2I |
| 1734-IT2IK |
| 1734-IV2 |
| 1734-IV4 |
| 1734-IV8 |
| 1734-IV8K |
| 1734-OA2 |
| 1734-OA4 |
| 1734-OA4K |
| 1734-OB2 |
| 1734-OB2E |
| 1734-OB2EP |
| 1734-OB4 |
| 1734-OB4E |
| 1734-OB4K |
| 1734-OB8 |
| 1734-OB8E |
| 1734-OB8EK |
| 1734-OB8K |
| 1734-OB8S |
| 1734-OB8S-CC |
| 1734-OB8SK |
| 1734-OBV2S |
| 1734-OBV2SK |
| 1734-OE2C |
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| 1734-OE2VK |
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