芯片金球焊點BGA凸點剪切力測試儀擁有多項功能，應(yīng)用操作中可執(zhí)行芯片器件推拉力和剪切力的測試操作。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體封裝、光通訊器材件封裝、LED封裝、COB/COG工藝測試、研究所材料力學(xué)研究、材料可靠性測試等應(yīng)用領(lǐng)域，是Bond工藝、SMT工藝、鍵合工藝等不可缺少的動態(tài)力學(xué)檢測儀器
芯片金球焊點BGA凸點剪切力測試儀測試類型及相應(yīng)標準:
冷/熱焊凸塊拉力 -JEITA EIAJ ET-7407
BGA凸點剪切 -JEDEC JESD22-B117A
冷焊凸塊拉力 -JEDEC JESD22-B115
金球剪切 -JEDEC JESD22-B116
球焊剪切 -ASTM F1269
引線拉力 -DT/NDT MIL STD 883
芯片剪切 -MIL STD 883§
立柱拉力 -MIL STD 883§
倒裝焊拉力 -JEDEC JESD22-B109
產(chǎn)品特點：
1.廣泛的測試能力
當前新興的應(yīng)用為迎合負載CARTRIDGE和標準及用裝置來進行高達500公斤的剪切測試，高達100公斤的拉力測試。高達50公斤的推力測試。（非標定制）
2.圖像采集系統(tǒng)
快速和簡單的設(shè)置，安裝在靠近測試頭位置，以幫助更快地測試。提高了測試自動化。
3.XY平臺
標準的XY平臺為160mm，可滿足范圍廣泛的測試需要。XY平臺也可定制。
產(chǎn)品應(yīng)用：
焊帶拉力測試-多種鉤，鉗爪等負載具可以測試各種尺寸和類型的樣品。
銅線的焊球拉力測試，焊釘、柱狀凸塊的拉力測試-定制的拉力鉗爪可以在這項重要的連接處進行撕拉力測試。
拉力剪切力疲勞測試-疲勞分析正成為評估焊點可靠性中越來越重要的的方式，調(diào)節(jié)軟、硬件可采用拉力和剪切力兩周模式進行老疲勞分析
鈍化層剪切測試–使用軟件和特定負載具可進行焊球剪切力測試，而不受鈍化層的限制。
具體芯片金球焊點BGA凸點剪切力測試儀可以與聯(lián)往檢測設(shè)備聯(lián)系
