雙城平面光帶檢測儀 澄明度檢測儀的使用方
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xr1211 發(fā)布時間：2018-05-15 00:15:09
用途：機械密封件、光學零件、高級平臺、平板、導軌等高精度平面零件的平面檢測。平面平晶規(guī)格φ60*20mm φ80*20mm φ100*25mmφ150mm以上屬非標立品需訂做平面平晶產(chǎn)品特點*平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的平面度。*平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度。亦可用于檢定高精度的平面零件，例如，平面光學零件、高級平臺、平板、導軌、密封件等。平面平晶特別適用于計量單位、實驗室作為標準平面和樣板。
用途：機械密封件、光學零件、高級平臺、平板、導軌等高精度平面零件的平面檢測。功率：20W 電源：220V/50Hz 專用燈源照射平面平晶規(guī)格φ60*20mm φ80*20mm φ100*25mmφ150mm以上屬非標立品需訂做平面平晶產(chǎn)品特點*平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的平面度。*平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度。亦可用于檢定高精度的平面零件，例如，平面光學零件、高級平臺、平板、導軌、密封件等。平面平晶特別適用于計量單位、實驗室作為標準平面和樣板。技術(shù)參數(shù):
用途：機械密封件、光學零件、高級平臺、平板、導軌等高精度平面零件的平面檢測。平面平晶規(guī)格φ60*20mm φ80*20mm φ100*25mmφ150mm以上屬非標立品需訂做平面平晶產(chǎn)品特點*平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的平面度。*平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度。亦可用于檢定高精度的平面零件，例如，平面光學零件、高級平臺、平板、導軌、密封件等。平面平晶特別適用于計量單位、實驗室作為標準平面和樣板。
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